产品名称:霍尔效应测试仪
品牌:Toho Technology
型号:HL9900
关键词标签:霍尔效应、载流子浓度、迁移率
一、简介
Toho Technology公司的HL9900是一款用于测量半导体材料的电阻率,载流子浓度和迁移率的半导体高性能霍尔系统。
二、技术规格
电阻测试范围:10E-4 Ω/sq ~10E6Ω/sq
载流子浓度测试范围:10E6 ~ 10E21 cm-3
载流子迁移率测试范围:1 ~ 10E7 cm2/V.s
磁场强度:0.5T(5000 Gauss),标称 ±1%
低温选配
三、应用
本设备可以在不同温度下进行霍尔效应的测试,可测试半导体材料的电阻率、霍尔系数、载流子迁移率、载流子浓度等参数