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关于我们 / About us

上海求峰仪器设备有限公司由具有多年半导体经验的资深技术团队发起,专注于半导体光刻及曝光、膜厚测量、缺陷检测、电性测量、应力测量等,我们立志成为半导体光刻Litho、量测Metrology和检测Inspection的专业级供应商,为科研、前道工艺开发、封装、光刻胶、硅片/化合物半导体衬底和外延等领域贡献力量。...

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  • SR-Mapping膜厚仪案例
    SR-Mapping膜厚仪案例

    2023年11月,我司取得江阴某先进封装FAB一台SR-Mapping膜厚仪订单,波段380-1000nm,厚度范围15nm-150um,用于膜厚和反射率工艺监控。...

  • Flex-Mount原子力显微镜案例
    Flex-Mount原子力显微镜案例

    2023年6月,我司成交一台Flex-Mount原子力显微镜,最大可测8寸Wafer,可测量晶圆的台阶及粗糙度。...

  • SR-C膜厚仪案例
    SR-C膜厚仪案例

    2023年2月,我司取得南京某光电企业一台SR-C膜厚仪订单,波段380-1650nm,用于膜厚和反射率工艺监控。...

  • FSM 128L薄膜应力仪案例
    FSM 128L薄膜应力仪案例

    2022年9月,我司成交一台FSM 128L薄膜应力仪,最大可测12寸Wafer,可测量薄膜的Stress/Bow。...

  • 280SI四探针测试仪案例
    280SI四探针测试仪案例

    2022年3月,我司成交一台333A四探针测试仪,最大可测12寸Wafer,可测量金属薄膜厚度及方块电阻。...

  • SE-VM-L光谱椭偏仪案例
    SE-VM-L光谱椭偏仪案例

    2022年8月,我司成交一台SE-VM光谱椭偏仪,波长380-1650nm,用于VCSEL光芯片中薄膜厚度和折射率测量。...

  • KC-31尘埃粒子计数器案例
    KC-31尘埃粒子计数器案例

    2022年10月,我司成交一台KC-31空气粒子计数器,适合监控千级无尘室颗粒状况。...

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